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泰州巨纳新能源牵头起草的国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》正式发布

泰州巨纳新能源牵头起草的国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》正式发布

  • 分类:公司新闻
  • 作者:泰州巨纳新能源办公室
  • 来源:
  • 发布时间:2024-05-06 22:09
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【概要描述】       2024年3月15日,国家市场监督管理总局(国家标准化管理委员会)发布2024年第1号中华人民共和国国家标准公告,批准由泰州巨纳新能源有限公司和中科院上海微系统所牵头起草的国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》正式发布,并将于2024年7月1日起实施。        国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279/WG9(全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组)组织,主管部门为中国科学院。该国家标准的主要起草单位为泰州巨纳新能源有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、上海巨纳科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、泰州飞荣达新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、南京大学、电子科技大学(深圳)高等研究院、清华大学、江南大学、贵州金特磨削科技开发有限公司、福建翔丰华新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯检测认证有限公司、欣旺达电子股份有限公司。主要起草人为王浩敏、丁荣、吕俊鹏、谢晓明、王慧山、孔自强、陈晨、陈谷一、袁文军、王兰兰、方崇卿、邵悦、倪振华、王欣然、李雪松、王琛、肖少庆、张豪、宋宏芳、许莉、干静、洪江彬、陈敏、严春伟。        石墨烯薄膜广泛应用于电子器件领域,如显示、通信和可穿戴设备。不同的应用对石墨烯薄膜的载流子迁移率和方块电阻有不同的要求,而载流子迁移率和方块电阻决定了石墨烯薄膜的性能。载流子迁移率和方块电阻是石墨烯薄膜质量控制和产品开发的关键控制特性。从触摸屏到太阳能电池,方块电阻电阻变化了两到三个数量级。然而,即使由相同的薄膜制成,从不同结构的器件中提取的载流子迁移率也存在巨大差异。本标准的制定有规范石墨烯薄膜的霍尔器件形状、电极类型、电极接触方式、测量步骤等,提高石墨烯薄膜质量评价体系的科学性,降低不同实验条件对载流子迁移率和方块电阻测量造成的干扰。同时,本标准规定的测量方法操作简单,成本低廉,具有良好的经济效益。

泰州巨纳新能源牵头起草的国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》正式发布

【概要描述】       2024年3月15日,国家市场监督管理总局(国家标准化管理委员会)发布2024年第1号中华人民共和国国家标准公告,批准由泰州巨纳新能源有限公司和中科院上海微系统所牵头起草的国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》正式发布,并将于2024年7月1日起实施。

       国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279/WG9(全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组)组织,主管部门为中国科学院。该国家标准的主要起草单位为泰州巨纳新能源有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、上海巨纳科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、泰州飞荣达新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、南京大学、电子科技大学(深圳)高等研究院、清华大学、江南大学、贵州金特磨削科技开发有限公司、福建翔丰华新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯检测认证有限公司、欣旺达电子股份有限公司。主要起草人为王浩敏、丁荣、吕俊鹏、谢晓明、王慧山、孔自强、陈晨、陈谷一、袁文军、王兰兰、方崇卿、邵悦、倪振华、王欣然、李雪松、王琛、肖少庆、张豪、宋宏芳、许莉、干静、洪江彬、陈敏、严春伟。

       石墨烯薄膜广泛应用于电子器件领域,如显示、通信和可穿戴设备。不同的应用对石墨烯薄膜的载流子迁移率和方块电阻有不同的要求,而载流子迁移率和方块电阻决定了石墨烯薄膜的性能。载流子迁移率和方块电阻是石墨烯薄膜质量控制和产品开发的关键控制特性。从触摸屏到太阳能电池,方块电阻电阻变化了两到三个数量级。然而,即使由相同的薄膜制成,从不同结构的器件中提取的载流子迁移率也存在巨大差异。本标准的制定有规范石墨烯薄膜的霍尔器件形状、电极类型、电极接触方式、测量步骤等,提高石墨烯薄膜质量评价体系的科学性,降低不同实验条件对载流子迁移率和方块电阻测量造成的干扰。同时,本标准规定的测量方法操作简单,成本低廉,具有良好的经济效益。

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       2024年3月15日,国家市场监督管理总局(国家标准化管理委员会)发布2024年第1号中华人民共和国国家标准公告,批准由泰州巨纳新能源有限公司和中科院上海微系统所牵头起草的国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》正式发布,并将于2024年7月1日起实施。

       国家标准GB/T 43682-2024《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279/WG9(全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组)组织,主管部门为中国科学院。该国家标准的主要起草单位为泰州巨纳新能源有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、上海巨纳科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、泰州飞荣达新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、南京大学、电子科技大学(深圳)高等研究院、清华大学、江南大学、贵州金特磨削科技开发有限公司、福建翔丰华新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯检测认证有限公司、欣旺达电子股份有限公司。主要起草人为王浩敏、丁荣、吕俊鹏、谢晓明、王慧山、孔自强、陈晨、陈谷一、袁文军、王兰兰、方崇卿、邵悦、倪振华、王欣然、李雪松、王琛、肖少庆、张豪、宋宏芳、许莉、干静、洪江彬、陈敏、严春伟。

       石墨烯薄膜广泛应用于电子器件领域,如显示、通信和可穿戴设备。不同的应用对石墨烯薄膜的载流子迁移率和方块电阻有不同的要求,而载流子迁移率和方块电阻决定了石墨烯薄膜的性能。载流子迁移率和方块电阻是石墨烯薄膜质量控制和产品开发的关键控制特性。从触摸屏到太阳能电池,方块电阻电阻变化了两到三个数量级。然而,即使由相同的薄膜制成,从不同结构的器件中提取的载流子迁移率也存在巨大差异。本标准的制定有规范石墨烯薄膜的霍尔器件形状、电极类型、电极接触方式、测量步骤等,提高石墨烯薄膜质量评价体系的科学性,降低不同实验条件对载流子迁移率和方块电阻测量造成的干扰。同时,本标准规定的测量方法操作简单,成本低廉,具有良好的经济效益。

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